产品时间：2023-03-12
系列标准塞规式测量系统 该量仪属于比对法测量，可快速高效测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件
该量仪属于比对法测量，可快速高效测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件
DIATEST塞规式测量系统*的导向体设计，了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、得出测量结果。
测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！
测头结构 |
| 测头参数 |
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1、手柄 | 测头形式：标准孔 | ||
2、显示装置 | 测量范围：+0.2mm | ||
3、测针 | 重复精度：0.001mm | ||
4、导向体 | 线性误差：1%测量行程 | ||
5、两瓣体 | 测点半径：4.5mm | ||
6、测点 | 测头寿命：可达100万次 |
导向体根据被测工件制定是BMD测头的精度来源。
测量结果可靠不受人为因素影响
可提供刻字服务如客户的特定ID号、公差等
