产品展示
PRODUCT DISPLAY
产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > DIATEST德国 > 系列标准塞规式测量系统 >系列标准塞规式测量系统

系列标准塞规式测量系统

产品时间:2021-03-22

简要描述:

系列标准塞规式测量系统
该量仪属于比对法测量,可快速高效测量孔内几何形状,自定中心,应用范围广,操作简单精度高,结构牢固长寿命,不会划伤工件

在线咨询 点击收藏

0-1系列标准塞规式测量系统

 该量仪属于比对法测量,可快速高效测量孔内几何形状,自定中心,应用范围广,操作简单精度高,结构牢固长寿命,不会划伤工件

DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可能性,解决了孔径测量的对中难题,限度减少了人为因素测量结果的影响,可方便、快速、准确得出测量结果。

测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作!

测头结构

测头参数

1、手柄

测头形式:标准孔

2、显示装置

测量范围:+0.2mm

3、测针

重复精度:0.001mm

4、导向体

线性误差:1%测量行程

5、两瓣体

测点半径:4.5mm

6、测点

测头寿命:可达100万次

 











导向体根据被测工件制定BMD测头的精度来源。

测量结果准确可靠不受人为因素影响

可提供刻字服务如客户的特定ID号、公差等

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
联系方式
  • 电话

在线客服