答：比较法测量，需要配校对环规。使用校对环规进行零点校准，校对环规的尺寸与孔的小尺寸相关，如此可以确保在校准过程中极大的减小的轴向和径向的误差。遵循DIN2250-C标准的环规的校对环规，较大尺寸的环规或小尺寸、中间尺寸和尺寸的校对环规通常是不需要的。

塞规式测头一般分为标准孔测头、通孔测头和盲孔测头。您可以根据要测量孔的深度来确定塞规头的形式，如果要测量位置非常靠近根部，可以选用盲孔测头；如果是盲孔，但是不要求测点位置很低，那标准测头就可以满足要求；如果要测量通孔的孔口位置，选用通孔测头。根据测量需求的不同，我们还有其他形式的测头，如加长导向体测头、自动测量用测头等。
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