产品时间:2024-05-31
访问次数:1203
商品名称: | 低阻抗率计 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX |
特色: | 维持安定之高质量,依据之四探针理论之高精度之阻抗率计 操作简单,现场使用携带型方便,用于生产技术、质量管理 |
测定范围: | 10-2~106Ω |
资料输出: | USB Memory |
体积: | 约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g |
标准配备 | ||
ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 利用价值广泛标准探头JIS K7194对应, Pin间 5mm,Pin尖 0.37R×4支,压力 210g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm | ||
MCP-TA06 充电器 | ||
选购品 | |
ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 不均样品用 Pin间 5mm,Pin尖 ? 2×4支,压力 240g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm | |
PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 小样品或薄膜用 Pin间 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,压力 70g/支, 尺寸 ? 10-20× L112mm | |
QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 微小样品用 Pin间 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,压力 70g/支, 尺寸 ? 10-20× L112mm | |
NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer用 Pin间 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,压力 250g/支 | |
BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 大样品用 Pin间 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,压力 210g/支 | |
TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin间 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,压力 50g/支 | |
AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》 标准样式 Pin间 10mm,Pin尖 ? 2×2支,压力 240g/支 | |
BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 大样品用 Pin尖 ? 2×2支,压力 240g/支 | |
MCP-TRF1探头检验片 ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定检查之) | |
MCP-TRPS 探头检验片 PSP探头用 (探头检验片于测定检查之) | |
MCP-TRTF 探头检验片 TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定检查之) |