日本filmetrics显微自动膜厚测量系统F54
F54显微自动膜厚测量系统是将微小区域内的高精度膜厚/光学常数分析功能与自动高速载物台相结合的系统。兼容 2 英寸到 450 毫米的硅基板，它可以以的速度在点测量薄膜厚度和折射率。

留言框

• 产品：

• 您的单位：

• 您的姓名：

• 联系电话：

• 常用邮箱：

• 省份：

  请选择您所在的省份 安徽 北京 福建 甘肃 广东 广西 贵州 海南 河北 河南 黑龙江 湖北 湖南 吉林 江苏 江西 辽宁 内蒙古 宁夏 青海 山东 山西 陕西 上海 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江 重庆 香港 澳门 台湾 国外

• 详细地址：

• 补充说明：

• 验证码：

  

  请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7