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日立荧光分布成像系统

产品时间:2022-05-06

简要描述:

日立荧光分布成像系统
1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)
在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)

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一、荧光分布成像系统(EEM View)简介

       作为荧光分光光度计的配件系统,这是创将相机与荧光分光光度计的结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。


 荧光分布成像系统结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

    二、  荧光分布成像系统特点:

    1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

软件界面.png


2.  样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png


荧光分布成像系统是一种全新的技术新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

日立科学仪器(北京)有限公司为您提供日立荧光分布成像系统EEM View的参数、价格、型号、原理等信息,日立荧光分布成像系统EEM View产地为日本、品牌为日立,型号为EEM View,价格为面议,更多相关信息可来咨询,公司客服电话7*24小时为您服务


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